Test

• Verifikation und Test
• Test
• Chip-Ausbeute
• Testbarkeitsindex
• Testqualität
• Vollständiger Test kombinatorischer Schaltungen
• Vollständiger Test sequentieller Schaltungen
• Testdurchführung
• Testmuster
• Funktionelle Testmuster
• Strukturelle Testmuster
• Fehlermodelle
• Fehlererkennung und Testmuster
• Einstellbarkeit (Steuerbarkeit)
• Beobachtbarkeit
• Beispiel: Fehlererkennung
• D-Algorithmus
• Implikation und Entscheidung
• Testmustergenerierung mit D-Algorithmus
• Beispiel zum D-Algorithmus
• Scan Test
• Fehlersimulation